【技术实现步骤摘要】
本技术涉及芯片测试，更具体的说，它涉及一种集成电路芯片测试用定位装置。
技术介绍
1、在集成电路芯片生产过程中，为了保证集成电路芯片的质量，需要对集成电路芯片进行测试，集成电路芯片检测是指对集成电路芯片进行各种测试和验证，以确保其质量和性能符合规定的标准和要求，芯片测试的方式较多，但是无论是哪种测试都必须使用定位装置对芯片进行定位。现有的一些集成电路芯片测试用定位装置在使用时，不能对多个芯片进行交替定位，需要将一个芯片定位锁定测试完成后，将其进行解锁，在更下一个芯片进行定位锁定测试，浪费了更换芯片时，芯片锁定和解锁的时间，从而降低了集成电路芯片测试的工作效率；其次，现有的一些集成电路芯片测试用定位装置在使用时，需求人工将集成电路芯片放置到底座上，进行手动上料，浪费了人工成本，增加了工人的劳动负担，且工作频率低，无法满足集成电路芯片批量生产的需求。
技术实现思路
1、(一)解决的技术问题
2、针对现有技术中存在的问题，本技术提供了一种集成电路芯片测试用定位装置，以解决
技术介绍
中提...
【技术保护点】
1.一种集成电路芯片测试用定位装置，包括测试台(1)，所述测试台(1)上设有支撑架(2)，所述支撑架(2)下端设有第一电动推杆(3)，所述第一电动推杆(3)驱动端设有测试模块(4)，所述测试模块(4)一侧与支撑架(2)通过轨道结构滑动连接，其特征是：所述测试台(1)通过轴承转动连接有转盘(5)，所述测试台(1)上端向内凹陷形成与转盘(5)相配合的凹槽，所述转盘(5)上设有旋转柱(6)，所述旋转柱(6)下端穿过转盘(5)和测试台(1)连接有齿带(7)，所述测试台(1)下端设有第一电机(8)，所述第一电机(8)驱动端设有第一驱动齿轮(9)，所述第一驱动齿轮(9)与齿带(7...
【技术特征摘要】
1.一种集成电路芯片测试用定位装置，包括测试台(1)，所述测试台(1)上设有支撑架(2)，所述支撑架(2)下端设有第一电动推杆(3)，所述第一电动推杆(3)驱动端设有测试模块(4)，所述测试模块(4)一侧与支撑架(2)通过轨道结构滑动连接，其特征是：所述测试台(1)通过轴承转动连接有转盘(5)，所述测试台(1)上端向内凹陷形成与转盘(5)相配合的凹槽，所述转盘(5)上设有旋转柱(6)，所述旋转柱(6)下端穿过转盘(5)和测试台(1)连接有齿带(7)，所述测试台(1)下端设有第一电机(8)，所述第一电机(8)驱动端设有第一驱动齿轮(9)，所述第一驱动齿轮(9)与齿带(7)啮合连接，所述旋转柱(6)上端设有顶板(10)；
2.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片测试用定位装置，其特征是：所述第二电机(11)驱动端连接有第二驱动齿轮(12)，所述第二驱动齿轮(12)啮合连接有第一齿条(13)和第二齿条(14)，所述第一齿条(13)和第二齿条(14)分别通过轨道结构与转盘(5)滑动连接。
3.根据权利要求2所述的一种集成电路芯片测试用定位装置，其特...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘盛华，王世燕，许战越，饶弋然，
申请(专利权)人：上海北芯集成电路技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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