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本申请提供了一种半导体芯片设计中隔离器件的确定方法、装置及设备，涉及半导体芯片制造技术领域，该方法包括：确定隔离阱版图依赖参数与耐压值之间的版图依赖关系；根据版图依赖关系，建立与隔离器件的工艺要求对应的隔离器件模型；利用隔离器件模型构建待设...
该专利属于粤芯半导体技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过粤芯半导体技术股份有限公司授权不得商用。

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