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本发明涉及透明导电性薄膜。透明导电性薄膜(1)朝着厚度方向一侧依次具备基材层(2)和透明导电层(3)。对于利用热机械分析装置测定的尺寸变化率，基材层(2)或透明导电性薄膜(1)在30℃以上且140℃以下之间具有峰。尺寸变化率为：在与厚度方向...
该专利属于日东电工株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过日东电工株式会社授权不得商用。

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