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本发明的课题在于不仅进行比特错误的测量还同时进行Flit错误的测量。通过操作部(2)进行与通道数相对应的Flit长度、相当于SKP OS的部分的掩码用掩码码型长度和掩码码型周期、Flit错误判别用阈值的设定。错误检测器(4)通过符号掩码生成...
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