误码率测量装置及误码率测量方法制造方法及图纸

本发明专利技术的课题在于不仅进行比特错误的测量还同时进行Flit错误的测量。通过操作部(2)进行与通道数相对应的Flit长度、相当于SKP OS的部分的掩码用掩码码型长度和掩码码型周期、Flit错误判别用阈值的设定。错误检测器(4)通过符号掩码生成部(25)生成掩码码型，通过错误检测部(28)以来自被测物的PAM4信号Flit长度的间隔来进行分段，通过掩码码型对相当于SKP OS的部分进行掩码而检测并计数相当于Flit的部分的错误，通过Flit错误检测部(29)检测并计数相当于Flit的部分的每个ECC Group的FEC符号错误，将FEC符号错误数超过了阈值的部分判定为Flit错误。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种将能够通过本身的设定过渡到回送状态的设备设为被测物而进行从被测物发送的基于prbs码型的比特串数据的pam4信号的错误测量的误码率测量装置及误码率测量方法。

技术介绍

1、以往，误码率测量装置作为如下装置而周知，即，将包含固定数据的已知码型的测试信号发送至被测物，并以比特单位比较伴随该测试信号的发送而从被测物返回并接收的被测量信号与成为基准的参考信号，以测量比特误码率(以下，也称为ber：bit errorrate)。

2、并且，如下述专利文献1中所公开，已知有具有遵照ieee 802.3标准的rs-fec测量功能的误码率测量装置。在该误码率测量装置中，合计以码字长度来分段的区域的每个码字长度的fec符号错误数，获取并显示各错误计数数及错误率。

3、与被测物的ltssm(link training and status state machine：链路训练状态机)进行链路训练而使被测物处于loopback状态(信号返回的状态)，使用mcp(modifiedcompliance pattern：已修改测试码型)进行了本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种误码率测量装置，其具备进行设定的操作部(2)及接收从被测物(W)发送的基于PRBS码型的比特串数据的PAM4信号并检测错误的错误检测器(4)，所述误码率测量装置的特征在于，

2.根据权利要求1所述的误码率测量装置，其特征在于，还具备：

3.根据权利要求1或2所述的误码率测量装置，其特征在于，具备：

4.一种误码率测量方法，其使用了进行设定的操作部(2)及接收从被测物(W)发送的基于PRBS码型的比特串数据的PAM4信号并检测错误的错误检测器(4)，所述误码率测量方法的特征在于，

5.根据权利要求4所述的误码率测量方法，其特征在于，<...

【技术特征摘要】

1.一种误码率测量装置，其具备进行设定的操作部(2)及接收从被测物(w)发送的基于prbs码型的比特串数据的pam4信号并检测错误的错误检测器(4)，所述误码率测量装置的特征在于，

2.根据权利要求1所述的误码率测量装置，其特征在于，还具备：

3.根据权利要求1或2所述的误码率测量装置，其特征在于，具备：<...

【专利技术属性】
技术研发人员：城所久生，
申请(专利权)人：安立股份有限公司，
类型：发明
国别省市：