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本发明公开了一种芯片测试系统及芯片测试方法。根据本发明实施例的芯片测试系统包括主控单元；选择单元，所述选择单元与所述主控单元相连接以接收选通信号，所述选择单元包括多个输出通道；其中，待测试芯片包括多个输出端，所述多个输出端分别电连接所述多个...
该专利属于北京集创北方科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京集创北方科技股份有限公司授权不得商用。

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