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一种应用于DC‑DC的高可靠多模式软启动电路，包含两种软启动模式，可实现外部电容控制软启动和内部固定时间软启动两种模式。相比传统的软启动技术，具有更高的可靠性和灵活性。高可靠性体现在当外部电容虚焊或损坏后，电路启动将采用内部软启动模式，不会...
该专利属于北京微电子技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京微电子技术研究所授权不得商用。

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