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射频耦合测试方法、装置、存储介质以及电子设备制造方法及图纸
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文档序号:42741804
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本申请涉及一种射频耦合测试方法、装置、存储介质以及电子设备。该方法包括:接收测试设备发出的耦合测试指令,并验证耦合测试指令的有效性;在耦合测试指令有效的情况下,对耦合测试指令进行数据格式转换处理;将处理后的耦合测试指令发送至通讯模块,以使通...
该专利属于上海广翼智联科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海广翼智联科技有限公司授权不得商用。
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