射频耦合测试方法、装置、存储介质以及电子设备制造方法及图纸

技术编号:42741804 阅读:15 留言:0更新日期:2024-09-18 13:35
本申请涉及一种射频耦合测试方法、装置、存储介质以及电子设备。该方法包括:接收测试设备发出的耦合测试指令,并验证耦合测试指令的有效性;在耦合测试指令有效的情况下,对耦合测试指令进行数据格式转换处理;将处理后的耦合测试指令发送至通讯模块,以使通讯模块基于处理后的耦合测试指令执行对应的耦合测试动作并生成耦合测试结果;对耦合测试结果进行数据格式转换处理,以使耦合测试结果符合测试设备的数据格式要求,并将处理后的耦合测试结果返回给测试设备。本申请解决了当前的射频耦合测试方案中应用处理器和通讯模块之间通讯信号质量差的技术问题。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及耦合测试领域,尤其涉及一种射频耦合测试方法、装置、存储介质以及电子设备


技术介绍

1、应用处理器soc(system on chip)可以运行wi ndows/l inux/android等操作系统,但是很多情况下应用处理器不带移动通讯功能或者自身集成的移动通讯功能无法满足产品要求,就需要通过usb/uart/pcie外挂一个独立的通讯模块实现移动通讯相关功能。在工厂生产和产品设计过程中,需要对产品整机进行射频耦合测试以识别产品整机天线性能是否达到设计要求。为了满足这个测试要求,当前方案都是通过硬件设计来实现,比如通讯模块单独在pcba板上留出一个射频耦合测试用usb或者uart;或者在硬件电路设计中增加一个切换开关,当需要soc和通讯模块进行通讯交互时让通讯模块端口切换到和应用处理器soc连接,当需要做射频耦合测试时将通讯模块端口切换到和上位机pc连接以便上位机pc耦合测试工具下发测试指令。当前方案存在三个缺陷,第一,增加产品成本。切换开关方案需要硬件设计时增加一个切换开关器件,如果独立留测试端口,则需要增加一个外接端口连接器比如usb连接器本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种射频耦合测试方法,其特征在于,应用于目标设备的应用处理器,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述接收测试设备发出的耦合测试指令,并验证所述耦合测试指令的有效性包括:

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在所述耦合测试指令有效的情况下,对所述耦合测试指令进行数据格式转换处理,以使所述耦合测试指令符合所述目标设备的通讯模块的数据格式要求包括:

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在...

【技术特征摘要】

1.一种射频耦合测试方法,其特征在于,应用于目标设备的应用处理器,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述接收测试设备发出的耦合测试指令,并验证所述耦合测试指令的有效性包括:

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在所述耦合测试指令有效的情况下,对所述耦合测试指令进行数据格式转换处理,以使所述耦合测试指令符合所述目标设备的通讯模块的数据格式要求包括:

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所...

【专利技术属性】
技术研发人员:王文强胡向红
申请(专利权)人:上海广翼智联科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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