温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明涉及一种石英晶片低温频温曲线测试装置，由晶片试验装置、铂电阻、电路组件、频率测量系统和电缆线组成，晶片试验装置包括晶片安装板（１）、温控法兰（２）、加热片（３）和温控盖板（７），晶片安装板（１）整体呈倒置的π形，突台式温控法兰（２）扣...
该专利属于北京卫星环境工程研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京卫星环境工程研究所授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。