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本发明提供了一种表面缺陷检测方法，该检测方法包括：获取待检测物图像，并将所述待检测物图像输入预先训练好的的神经网络模型中，得到记载有检测分数的多个检测框；将所述多个检测框记载的检测分数分别映射到二维数组内；利用预先拟合的检测分数转RGB多项...
该专利属于广东鸿浩半导体设备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过广东鸿浩半导体设备有限公司授权不得商用。

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