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苏州国芯科技股份有限公司
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MCU调试方法、装置、设备及介质制造方法及图纸
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文档序号:42680761
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本申请公开了一种MCU调试方法、装置、设备及介质,涉及集成电路设计技术领域,应用于包含多个CPU的MCU,包括:对当前调试信息进行JTAG协议解析,以得到原始控制信号和CPU ID;将所述原始控制信号进行JTAG多核命令解析,以得到多个控制...
该专利属于苏州国芯科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过苏州国芯科技股份有限公司授权不得商用。
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