【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及集成电路设计，特别涉及mcu调试方法、装置、设备及介质。
技术介绍
1、mcu（microcontroller unit，即微控制单元）中包含多个cpu（centralprocessing unit，中央处理器），即称为多核mcu，调试模块是一个mcu的重要组成部分，用于为mcu的运行过程进行调试、设置硬件断点、查看和修改mcu的数据存储区域，是mcu产品开发人员在开发过程中的重要工具。
2、现有的调试模块都是上位机通过jtag（joint test action group，即联合测试工作组）连接到mcu的，再通过内部模块对mcu中所有cpu进行控制操作。对于多核mcu，需要每个cpu都有一个调试模块，并引出多组jtag连接线，这多根连接线通过串行连接的方式组成菊花链，以实现一对多拓扑结构。
3、通过菊花链的形式组成的多核调试系统，每一个核的调试模块工作在同一状态，不仅灵活度很低，调试成本也高；并且对于通过菊花链的形式组成的多核调试系统，调试信息需要依次穿过每一个cpu的调试模块，反应速度较慢，且...
【技术保护点】
1.一种MCU调试方法，其特征在于，应用于包含多个CPU的MCU，包括：
2.根据权利要求1所述的MCU调试方法，其特征在于，所述生成与所述CPU ID对应的CPU选择信号，包括：
3.根据权利要求1所述的MCU调试方法，其特征在于，所述控制各个所述CPU中与所述CPU选择信号对应的目标CPU接收所述控制命令，以便所述目标CPU基于所述控制命令对所述MCU进行调试，并生成调试数据，包括：
4.根据权利要求3所述的MCU调试方法，其特征在于，还包括：
5.根据权利要求3所述的MCU调试方法，其特征在于，还包括：
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