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本发明提供一种对门级网表的层次化检查方法，属于集成电路下数字芯片设计领域，本发明为解决在数字芯片设计流程中由于网表规模过大而带来的网表检查效率降低的问题。所述设计方法包括：对大型的网表文件按模式进行block划分；对划分后的每层block进...
该专利属于桂林电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过桂林电子科技大学授权不得商用。

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