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本申请提供一种软件缺陷级别划分方法、装置、存储介质、电子设备及程序；所述方法包括：利用多个评价指标分别对待分级的软件缺陷进行评价，得到每个评价指标对应的单项分值；为每个评价指标配置权重，利用各评价指标的权重对各单项分值加权，得到缺陷度量值；...
该专利属于京东方科技集团股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过京东方科技集团股份有限公司授权不得商用。

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