软件缺陷级别划分方法、装置、存储介质、电子设备及程序制造方法及图纸

技术编号:42670081 阅读:33 留言:0更新日期:2024-09-10 12:24
本申请提供一种软件缺陷级别划分方法、装置、存储介质、电子设备及程序;所述方法包括:利用多个评价指标分别对待分级的软件缺陷进行评价,得到每个评价指标对应的单项分值;为每个评价指标配置权重,利用各评价指标的权重对各单项分值加权,得到缺陷度量值;根据所述缺陷度量值的大小对所述软件缺陷进行分级。

【技术实现步骤摘要】

本申请的实施例涉及软件开发的,尤其涉及一种软件缺陷级别划分方法、装置、存储介质、电子设备及程序


技术介绍

1、在相关的软件缺陷的管理中,往往依赖于技术人员的经验而直接主观定义,进而导致语言描述软件缺陷时存在不准确,并且描述偏差的情况,因此对软件缺陷的级别划分也无法准确。

2、基于此,需要一种能够以量化方式来对软件缺陷进行分级的方案。


技术实现思路

1、有鉴于此,本申请的目的在于提出一种软件缺陷级别划分方法、装置、存储介质、电子设备及程序。

2、基于上述目的,本申请提供了软件缺陷级别划分方法,包括:

3、利用多个评价指标分别对待分级的软件缺陷进行评价,得到每个评价指标对应的单项分值;

4、为每个评价指标配置权重,利用各评价指标的权重对各单项分值加权,得到缺陷度量值;

5、根据所述缺陷度量值的大小对所述软件缺陷进行分级。

6、可选地,利用多个评价指标分别对待分级的软件缺陷进行评价之前,还包括:

7、对预设的缺陷页面进行语义识别,本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种软件缺陷级别划分方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述利用多个评价指标分别对待分级的软件缺陷进行评价之前,还包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述利用多个评价指标分别对待分级的软件缺陷进行评价之前,还包括:

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述缺陷信息还包括所述待分级的软件缺陷的子类编码;

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述将与所述缺陷信息中任一子类编码相同的候选子类确定为目标子类之后,还包括:

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述利用各评...

【技术特征摘要】

1.一种软件缺陷级别划分方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述利用多个评价指标分别对待分级的软件缺陷进行评价之前,还包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述利用多个评价指标分别对待分级的软件缺陷进行评价之前,还包括:

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述缺陷信息还包括所述待分级的软件缺陷的子类编码;

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述将与所述缺陷信息中任一子类编码相同的候选子类确定为目标子类之后,还包括:

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述利用各评价指标的权重对各单项分值加权,得到缺陷度量值,包括:

7.根据权利要求1所述的方法...

【专利技术属性】
技术研发人员:马超
申请(专利权)人:京东方科技集团股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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