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本发明属于键帽缺陷检测技术领域，具体的说是一种键盘键帽缺陷检测系统及方法，包括光学成像模块，用于对键盘键帽进行拍摄，获取键盘图像；图像处理模块，用于对键盘图像预处理，得到键帽图像；一次处理模块，用于处理键帽图像，识别缺陷键帽；通过一次处理模...
该专利属于深圳市洛斐客文化有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市洛斐客文化有限公司授权不得商用。

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