一种键盘键帽缺陷检测系统及方法技术方案

技术编号:42664732 阅读:35 留言:0更新日期:2024-09-10 12:21
本发明专利技术属于键帽缺陷检测技术领域,具体的说是一种键盘键帽缺陷检测系统及方法,包括光学成像模块,用于对键盘键帽进行拍摄,获取键盘图像;图像处理模块,用于对键盘图像预处理,得到键帽图像;一次处理模块,用于处理键帽图像,识别缺陷键帽;通过一次处理模块对键帽图像中的印刷信息与背景分割,通过判断印刷信息完整度,确定键帽图像是否存在缺陷,再通过二次处理模块计算分析颗粒轮廓是否属于缺陷,从而精确识别键帽图像上可能存在的缺陷,避免因二值化图像处理时,因阈值设置的不合理,导致可能存在的颗粒缺陷被隐藏,进而导致带有缺陷的键盘流入市场,对使用者的体验感造成影响。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于键帽缺陷检测,具体的说是一种键盘键帽缺陷检测系统及方法


技术介绍

1、键盘是数字化时代不可或缺的工具之一,键帽是键盘上必不可少的组成部分,键盘在生产结束后,需要对键盘键帽的质量进行监测,键帽表面印刷信息完整,且不存在颗粒缺陷是使用者拥有良好体验的重要保障。

2、在键盘生产阶段,受到材料、模具等影响,可能导致键帽上印刷信息不完整,或是键帽上存在颗粒缺陷,而上述缺陷的存在,若不能被检测出来,则在流入市场后,使使用者不能拥有良好的体验;如申请号为202211601776x公开的一种基于机器视觉的键帽表面颗粒缺陷检测方法,通过视觉检测相机采集键帽托盘图像,再通过图像处理算法检测键帽表面颗粒缺陷,判断产品是否合格,具体的,通过图像处理算法即二值化处理,通过设定阈值处理键帽图像,使键帽图像中颗粒缺陷与背景分割开,再通过对颗粒缺陷所属轮廓进行最小像素值、最大像素值以及平均像素值等的计算,来判断该颗粒缺陷是否存在;

3、但是在键盘键帽图像的二值化处理过程中,预设的阈值并不一定合理,而二值化图像处理技术中,当阈值设置的不合理,则会导致本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种键盘键帽缺陷检测系统,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的一种键盘键帽缺陷检测系统,其特征在于:所述图像处理模块获取键帽图像的方法为:

3.根据权利要求2所述的一种键盘键帽缺陷检测系统,其特征在于:所述一次处理模块根据印刷信息完整度判断键帽图像是否存在缺陷的方法为:

4.根据权利要求3所述的一种键盘键帽缺陷检测系统,其特征在于:所述根据第二阈值对获取的键帽图像进行二值化处理的方法为:

5.根据权利要求4所述的一种键盘键帽缺陷检测系统,其特征在于:所述二次处理模块根据颗粒轮廓像素值判断键帽图像是否存在缺陷的方法为:

...

【技术特征摘要】

1.一种键盘键帽缺陷检测系统,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的一种键盘键帽缺陷检测系统,其特征在于:所述图像处理模块获取键帽图像的方法为:

3.根据权利要求2所述的一种键盘键帽缺陷检测系统,其特征在于:所述一次处理模块根据印刷信息完整度判断键帽图像是否存在缺陷的方法为:

4.根据权利要求3所述的一种键盘键帽缺陷检测系统,其特征在于:所述根据第二阈值对获取的键帽图像进行二值化处理的方法为:

5.根据权利要求4所述的一种键盘键帽缺陷检测系统,其特征在于:所述二次处理模块根据颗粒轮廓像素值判断键帽图像是否存在缺陷的方法为...

【专利技术属性】
技术研发人员:褚明华殷洪霞袁智超
申请(专利权)人:深圳市洛斐客文化有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1