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本发明公开了一种基于LFSR设计的ONFI TESTCHIP内建自测试方法及装置。结合LFSR电路与ECC校验方法，基于MUX选择多种模式测试数据（顺序、固定、随机）。LFSR生成随机数测试序列，写阶段，LFSR生成数据并传输至CONTRO...
该专利属于博越微电子（江苏）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过博越微电子（江苏）有限公司授权不得商用。

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