温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种基于LA‑ICP‑MS原位微区面扫描的裂变径迹定年方法，属于地球化学、同位素定年技术领域。该方法获得<supgt;238</supgt;U含量对比单点剥蚀技术有几个方面的优势：原位微区面扫描获得元素的二维分布图，...
该专利属于中国地质科学院地质力学研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国地质科学院地质力学研究所授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。