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本发明公开了新型半导体夹测测试站，涉及半导体测试技术领域，包括：底座，其上固定有支架；两个呈对称设置的引脚组件，其设置于所述支架上，用于提供测试引脚；芯片提供组件，用于提供芯片；第一限位组件、第二限位组件，二者用于自不同的方向限位并按压测试...
该专利属于华恒半导体设备（苏州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华恒半导体设备（苏州）有限公司授权不得商用。

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