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本技术提供了一种集成芯片测试座，包括基座体和盖合件，所述基座体上设有用于收容置放主体的收容槽，所述置放主体上设有用于放置集成芯片的放置位，所述收容槽的底部设有开口，所述放置位的底部设有与集成芯片引脚对应的第一引脚孔，其中所述第一引脚孔沿轴向...
该专利属于深圳市华高嘉科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市华高嘉科技有限公司授权不得商用。

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