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本发明提供一种小型且高精度的光学式物理量测定装置。光学式物理量测定装置(1)具备发光元件(L)、至少包括第一受光元件和第二受光元件的多个受光元件(S)、以及反射部，发光元件根据辐射方向而具有不同的辐射光谱，使光至少以第一辐射角度、第二辐射角...
该专利属于旭化成微电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过旭化成微电子株式会社授权不得商用。

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