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本发明公开了一种故障可定位的芯片老化测试装置及测试方法，该装置包括：供电模块，用于提供正常工作所需要的电压；芯片测试座，用于为待测芯片提供稳定的物理和电气接口；存储芯片，用于存放老化程序，及芯片各个外设模块正常工作时的时间信息；所述存储芯片...
该专利属于湖南毂梁微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过湖南毂梁微电子有限公司授权不得商用。

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