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本发明公开了基于大数据分析的半导体芯片检测数据处理系统及方法，属于数据分析技术领域。本发明系统包括：数据获取模块、检测任务顺序构建模块、数据分析与关联模块、关联关系验证与决策支持模块以及结果输出与报告模块；通过数据获取模块从数据库中获取检测...
该专利属于芯百特微电子（无锡）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过芯百特微电子（无锡）有限公司授权不得商用。

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