温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种光通片缺陷检测方法，包括以下步骤：步骤一：将原始图像转化为灰度图进行预处理获得二值化图像；步骤二：通过轮廓检测获取二值化图像中的光通片顶点坐标即轮廓检测坐标以及光通片尺寸、光通片倾斜角度、光通片中心坐标；步骤三：使用Blob...
该专利属于烟台大学所有，仅供学习研究参考，未经过烟台大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。