【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种检测方法，特别涉及一种光通片缺陷检测方法。
技术介绍
1、光通片又称为光学薄膜片，其生产过程复杂而精密，在许多高科技应用中扮演着重要的角色，如激光器、太阳能电池、光纤通信等。在光通片的生产、转运过程中，很容易造成表面划伤、崩边、点伤等难以发现的微小缺陷，这些缺陷可能导致产品性能下降，甚至使产品无法使用。
2、由于光通片模组包含多个光通片单元，每个光通片单元长度和宽度均在1.4-2.5毫米之间，对于这种微小的表面缺陷，人工检测时，常使用高倍目镜观察，并通过手动小幅度调整光通片位置，观察每个光通片单元的缺陷情况，这种检测方式不仅检测效率低，工作量大，长时间工作对检测人员也会造成视觉伤害，而且检测人员的检测水平参差不齐，容易出现漏检错检现象，对产品质量影响较大。
3、综上所述需要引入具有高精度检测效果的光通片自动化缺陷检测方法，能够有效识别各种缺陷，代替人工检测在生产线上快速执行，提高检测效率。
技术实现思路
1、针对现有技术中存在的技术问题，本专利技术...
【技术保护点】
1.一种光通片缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的光通片缺陷检测方法，其特征在于：
3.根据权利要求1所述的光通片缺陷检测方法，其特征在于，步骤二还包括以下步骤：
4.根据权利要求3所述的光通片缺陷检测方法，其特征在于，
5.根据权利要求3所述的光通片缺陷检测方法，其特征在于，步骤二中获取四个轮廓顶点坐标包括以下步骤：
6.根据权利要求1所述的光通片缺陷检测方法，其特征在于，步骤三中所述将Blob检测获得的光通片补充到轮廓检测获得的光通片中，具体为：以Blob中心坐标为矩形中心，...
【技术特征摘要】
1.一种光通片缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的光通片缺陷检测方法，其特征在于：
3.根据权利要求1所述的光通片缺陷检测方法，其特征在于，步骤二还包括以下步骤：
4.根据权利要求3所述的光通片缺陷检测方法，其特征在于，
5.根据权利要求3所述的光通片缺陷检测方法，其特征在于，步骤二中获取四个轮廓顶点坐标包括以下步骤：
6.根据权利要求1所述的光通片缺陷检测方法，其特征在于，步骤三中所述将blob检测获得的光通片补充到轮廓检测获得的光通片中，具体为：以blob中心坐标为矩形中心，以轮廓倾斜角度为矩形倾斜角度、以轮廓宽度为矩形宽度、以轮廓高度为矩形高度绘...
【专利技术属性】
技术研发人员：李振，苗壮，张永腾，徐孝国，温邵雄，高国庆，朱淑亮，于涛，
申请(专利权)人：烟台大学，
类型：发明
国别省市：
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