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杭州光粒科技有限公司
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一种光栅最大衍射效率的测量方法及测量装置制造方法及图纸
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文档序号:42606145
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本发明公开了一种光栅最大衍射效率的测量方法及测量装置。待测全息体光栅放置于电动旋转位移台上且通过电动旋转位移台带动移动,光源发出的光束经二分之一波片入射到偏振分束器上,偏振分束器的分光面将入射光束分成两束偏振方向相互垂直的偏振光,偏振光再入...
该专利属于杭州光粒科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过杭州光粒科技有限公司授权不得商用。
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