一种光栅最大衍射效率的测量方法及测量装置制造方法及图纸

技术编号:42606145 阅读:34 留言:0更新日期:2024-09-03 18:15
本发明专利技术公开了一种光栅最大衍射效率的测量方法及测量装置。待测全息体光栅放置于电动旋转位移台上且通过电动旋转位移台带动移动,光源发出的光束经二分之一波片入射到偏振分束器上,偏振分束器的分光面将入射光束分成两束偏振方向相互垂直的偏振光,偏振光再入射至光栅中,光栅通过电动旋转台调节入射角度至布拉格入射角,光栅将偏振光分为透射光束和衍射光束,再入射到两个光探测器上,由光探测器采集透射光束和衍射光束的光特性参数,通过光探测器测得对应的光特性参数来完成相关光栅参数的测量。本发明专利技术通过合理的设置光路,利用两种偏振光综合获取衍射效率,以解决目前光栅衍射效率测试精确性低的问题,为体全息光栅的制作提供了参考依据。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于光栅参数测量,尤其涉及了一种光栅最大衍射效率的测量方法及测量装置


技术介绍

1、随着信息技术的不断发展,增强显示技术(ar)近些年来逐渐受到广泛的关注。增强现实技术是一种将虚拟信息与真实世界巧妙融合的技术,它将计算机生产的虚拟信息模拟仿真后,应用到真实世界中,两种信息互为补充,从而实现对真实世界的“增强”。衍射光波导作为主流ar眼镜的显示技术,其性能的优劣显得格外关键。其中衍射效率是评估衍射光波导中光栅结构的重要参数,衍射效率为衍射光功率与入射光功率的比值。入射光束射向光栅后,光栅出射形成的衍射光的光强度与入射光束的光强度的比值作为光栅的衍射效率,光栅的衍射效率是光栅表面材料等设计参数的重要反馈,因此如何对光栅的衍射效率进行测量显得尤为重要。

2、现有的测量装置需要构建复杂的实验光路系统,且无法快速实现光栅不同波长和偏振状态下衍射效率的测量,因此大大降低了光栅相关实验测试效率,其次,现有装置进行不同状态下光栅参数测量时,需要根据测试项目调整光路,改变光学元件位置或更换光学元件,这样对测量结果来说也会造成误差。


<本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光栅最大衍射效率的测量方法,其特征在于,包括以下步骤:

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7.根据权利要求1所述的一种光栅最大衍射效率的测量方法,其特征在于:

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【技术特征摘要】

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2.根据权利要求1所述的一种光栅最大衍射效率的测量方法,其特征在于:

3.根据权利要求1所述的一种光栅最大衍射效率的测量方法,其特征在于:

4.根据权利要求1所述的一种光栅最大衍射效率的测量方法,其特征在于:

5.根据权利要求1所述的一种光栅最大衍射效率的测量方法,其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈飞鸿陈挺余丽敏詹聪聪魏一振李彬彬张卓鹏
申请(专利权)人:杭州光粒科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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