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本发明公开了一种集成电路芯片的可靠性测试评估方法，包括：搭建用于集成电路芯片测试的测试环境，测试环境包括使用环境和压应力环境，根据使用环境定义的环境因子搭建试验箱；确定集成电路芯片在使用过程中决定性能的性能指标，遵循单一变量原则，计算环境因...
该专利属于成都赛迪育宏检测技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都赛迪育宏检测技术有限公司授权不得商用。

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