专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
MKS仪器有限公司
>
实时、非侵入式IEDF等离子体传感器制造技术
>技术资料下载
下载实时、非侵入式IEDF等离子体传感器的技术资料
文档序号:42593246
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
用于等离子体产生系统的控制器包括模型评估模块,该模型评估模块接收依照由RF发电机控制的等离子体的状态而变化的感测值。模型评估模块生成依照该感测值而变化的等离子体参数。模型集成模块接收等离子体参数,集成该等离子体参数,并且输出集成模型参数。I...
该专利属于MKS仪器有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过MKS仪器有限公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。