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本发明公开了一种改善极片导电率测试精度的装置及方法，所述装置，包括底座和工作组件A，所述底座两侧设置支撑架，所述支撑架连接工作组件A，所述底座上设置工作组件B，所述工作组件B上设置夹具。本申请通过增加压头A和压头B之间的接触距离，增加了导体...
该专利属于贵州梅岭电源有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过贵州梅岭电源有限公司授权不得商用。

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