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半导体器件及其制备方法技术
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文档序号:42554546
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本公开的实施例提供了一种半导体器件及其制备方法。该该半导体器件包括基底,基底的表面具有第一区域、第二区域和第三区域;第一介质层,施加在基底的第一区域和第三区域;栅电极,耦合至基底,包括栅帽区以及与基底的第二区域接触的接触区,栅帽区经由第一介...
该专利属于华为技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过华为技术有限公司授权不得商用。
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