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一种基于随机微小相移的双帧干涉测量相位的系统和方法技术方案
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下载一种基于随机微小相移的双帧干涉测量相位的系统和方法的技术资料
文档序号:42531141
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提供一种基于随机微小相移的双帧干涉测量相位的系统和方法,所述方法步骤包括:图像获取和数据处理。图像获取:利用所述分光组件将光束均等地分为两路,分别为参考光和待测光;参考光与待测光在所述图像采集组件部分进行干涉,在t1时获取第一帧干涉图、参考...
该专利属于北京理工大学所有,仅供学习研究参考,未经过北京理工大学授权不得商用。
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