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本发明涉及分析支持装置、分析支持方法、和分析支持程序。所述分析支持装置支持产品分析操作，所述分析支持装置包括模型数据生成单元，所述模型数据生成单元与代表形成分析对象产品的部件的层次的部件层次数据相关联地生成有关于所述分析对象部件的分析模型的...
该专利属于富士通株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过富士通株式会社授权不得商用。

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