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本发明涉及图像分割处理技术领域，具体涉及一种光电子器件表面缺陷视觉检测方法及系统。本发明首先获取光电子器件表面的灰度图像的初始缺陷区域；进一步获取第一缺陷可能性并筛选出疑似缺陷区域；进一步获取第二缺陷可能性并筛选出待分析缺陷区域；进一步获取...
该专利属于常熟理工学院所有，仅供学习研究参考，未经过常熟理工学院授权不得商用。

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