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本发明公开了一种半导体芯片测试方法及测试系统，涉及半导体芯片技术领域，为了解决半导体芯片测试结果获取不准确的问题。本发明通过将测试结果数据进行参数转换可以跟快速的将获取的测试结果与标准半导体参数数据进行参数对比，使对比结果参数的更加的准确，...
该专利属于联测优特半导体(东莞)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过联测优特半导体(东莞)有限公司授权不得商用。

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