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一种X射线衍射装置和控制方法，涉及成像装置技术领域，X射线衍射装置包括X射线源、试样台、X射线探测器和一维弯晶，X射线源用于产生第一X射线，试样台用于放置待测材料，X射线探测器用于探测待测材料产生的待测衍射X射线，一维弯晶具有衍射面，衍射面...
该专利属于深圳市新凯来工业机器有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市新凯来工业机器有限公司授权不得商用。

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