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本发明提供了一种薄膜厚度的测量方法及装置，涉及光伏技术领域。方法包括：将目标薄膜形成在目标衬底上；获取位于所述目标衬底上的所述目标薄膜的颜色信息；将所述目标衬底上的所述目标薄膜的颜色信息，输入预设的厚度测量模型，所述预设的厚度测量模型输出所...
该专利属于一道新能源科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过一道新能源科技股份有限公司授权不得商用。

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