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本发明公开了一种集成电路布局设计的检验方法，包括以下步骤：选择一电路设计布局进行检查，根据一判断规则，判断电路设计布局中的位于不同层间导线重叠处的接触孔（ｖｉａ）排列是否太狭长，或接触孔数量是否不够。在一实施例中，电路设计布局包括位于一第一...
该专利属于奇景光电股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过奇景光电股份有限公司授权不得商用。

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