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文档序号:4242470
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一种测量治具,该测量治具包括至少一个承载单元,以供待测工件容置。该承载单元包括承载室及基准面。该承载室用以承载所述待测工件,并具有承座面,该承座面用于接触所述待测工件的底面。所述基准面由所述承载室向外延伸,所述基准面及所述待测工件的顶面朝向...
该专利属于华泰电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过华泰电子股份有限公司授权不得商用。
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