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一种极片厚度方向上活性物质孔隙率的预测方法，它涉及一种活性物质孔隙率的预测方法。本发明的目的是要解决目前的极片孔隙率评估均为整体孔隙率评价，没有完整给出孔隙率在极片厚度方向的分布情况，不能全面的给出极片孔隙率信息，使得孔隙率指标的参考价值未...
该专利属于绥化学院所有，仅供学习研究参考，未经过绥化学院授权不得商用。

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