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本发明公开了一种星地双基地SAR旁瓣成像与形变测量方法，涉及合成孔径雷达技术领域，本发明在进行星地双基地SAR成像时，考虑了旁瓣观测时信号参数不确知、原始信号包络不规则、干涉图存在基线误差的问题，提出了精确的图像聚焦于形变测量方法，可有效补...
该专利属于北京理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京理工大学授权不得商用。

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