温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本申请提供的芯片检测设备利用多个输送轨道的设置，以及多个输送轨道相对第一检测结构和第二检测结构的位置设置，可以满足不同的输送工况以及芯片分类。同时，由于双轨道可以通过至少两个第一传输机构沿输送方向交替输送托盘；故而，前一第一传输机构上的托盘...
该专利属于杭州长川科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州长川科技股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。