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一种用于电子器件新材料的导电率检测装置制造方法及图纸
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下载一种用于电子器件新材料的导电率检测装置的技术资料
文档序号:42371812
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本发明涉及电导率测定技术领域,具体为一种用于电子器件新材料的导电率检测装置,包括工作台,所述工作台的下端面环形固定连接有三组支撑腿,且工作台的下端面中部设置有电机,所述电机外表面与工作台下端面固定连接有固定片,所述工作台的外表面一侧固定连接...
该专利属于南通漫丰电子科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过南通漫丰电子科技有限公司授权不得商用。
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