【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电导率测定，尤其是涉及一种用于电子器件新材料的导电率检测装置。
技术介绍
1、伴随信息化社会的快速发展，微电子集成程度越来越高，对构成微电子基本电路的各种电子元器件在体积和性能上都提出了更高的要求。电子器件电极呈现出用铜电极替代铝电极的发展趋势；
2、而在影像图像显示
中，大尺寸、高分辨率、高刷新率和低功耗面板是显示技术发展的趋势，近年来，随着这种趋势的发展，使用al电极布线会出现信号延迟(rc延迟)现象，难以满足高性能显示需求，开发高导布线电极材料可以使器件获得低阻抗延迟。与al相比，cu布线因更低的电阻率和更高的抗电迁移性能而在高导布线领域得到广泛关注。
3、尤其针对于铜作tft器件电极，在产品制作的初期，需要对生产待加工的铜合金材料采用抽样检测的方式，检测研究铜合金电导率率数值，测定是否满足产品生产合格要求，然而在实际的测定研究过程中人工送样检测时，大多通过人工使用电导率测量仪对材料进行检测，然而在检测过程中，人工的操作过程繁琐，大大降低了测量研究效率，并且待检测金属在检测过程中容易沾染...
【技术保护点】
1.一种用于电子器件新材料的导电率检测装置，包括工作台（1），其特征在于：所述工作台（1）的下端面环形固定连接有三组支撑腿（11），且工作台（1）的下端面中部设置有电机（13），所述电机（13）外表面与工作台（1）下端面固定连接有固定片（14），所述工作台（1）的外表面一侧固定连接有固定块（12），且固定块（12）的上端面转动连接有L型结构转动支架（3），所述工作台（1）的上端面转动连接有转盘（2），且转盘（2）的下端面中部与电机（13）输出轴固定，所述工作台（1）的上端面一侧固定连接有清理机构（4），所述转动支架（3）的上端面与清理机构（4）对应位置固定连接有电动推...
【技术特征摘要】
1.一种用于电子器件新材料的导电率检测装置，包括工作台（1），其特征在于：所述工作台（1）的下端面环形固定连接有三组支撑腿（11），且工作台（1）的下端面中部设置有电机（13），所述电机（13）外表面与工作台（1）下端面固定连接有固定片（14），所述工作台（1）的外表面一侧固定连接有固定块（12），且固定块（12）的上端面转动连接有l型结构转动支架（3），所述工作台（1）的上端面转动连接有转盘（2），且转盘（2）的下端面中部与电机（13）输出轴固定，所述工作台（1）的上端面一侧固定连接有清理机构（4），所述转动支架（3）的上端面与清理机构（4）对应位置固定连接有电动推杆（31），所述电动推杆（31）输出轴贯穿转动支架（3）并活动连接，所述电动推杆（31）的下端面固定连接有检测探头（32），所述检测探头（32）通过导线与外界涡流金属电导率检测仪连接，所述转盘（2）的上端面环形分布五组固定机构（5）。
2.根据权利要求1所述的一种用于电子器件新材料的导电率检测装置，其特征在于：所述固定机构（5）包括开设在转盘（2）上端面边缘的u型结构的检测槽（53），所述检测槽（53）内壁对称设置有s型结构的弹片（51），所述检测槽（53）内壁活动连接有推片（52），所述推片（52）位于两个所述弹片（51）之间，所述固定机构（5）在转盘（2）转动过程中经过清理机构（4）下侧，所述工作台（1）的外表面与检测槽（53）对应位置开设有进料口（15）。
3.根据权利要求2所述的一种用于电子器件新材料的导电率检测装置，其特征在于：所述推片（52）的后端面设置有除尘机构（6），所述除尘机构（6）包括开设在检测槽（53）后侧的活动槽（62），所述活动槽（62）的内部滑动连接有活动块（64），所述活动块（64）的后端与活动槽（62）内部之间设置有弹簧（63），所述弹簧（63）的弹力大于两个所述s型结构弹片（51）的弹性挤压力。
4.根据权利要求1所述的一种用于电子器件新材料的导电率检测装置，其特征在于：所述活动槽（62）与活动块（64）呈t型结构相互匹配不可脱离，位于所述活动槽（62）内部的活动块（64）一端外表面胶接有密封圈，所述活动块（64）通过密封圈在活动槽（62）中前后滑动位移。
5.根据权利要求4所述的一种用于电子器件新材料的导电率检测装置，其特征在于：所述活动块（64）的内部开设有气道，气道一端与活动块（64）后端活动槽（62）相通，另一端延伸至推片（52）中，所述推片（52）的前端面等距离固定有喷头（61），所...
【专利技术属性】
技术研发人员：薛金林，
申请(专利权)人：南通漫丰电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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