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一种半导体设备数据智能采集方法及系统技术方案
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下载一种半导体设备数据智能采集方法及系统的技术资料
文档序号:42368337
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本发明涉及数据处理技术领域,具体涉及一种半导体设备数据智能采集方法及系统,包括:根据每次采集的电压监测数据在不同分段的差异,获得每次采集过程中电压监测数据的数据变化独立性,从而根据与设备状态监测数据的数据变化独立性的差异,获得电压监测数据的...
该专利属于深圳市川世达科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市川世达科技有限公司授权不得商用。
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