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本申请涉及视觉检测相关技术领域，公开了一种封装芯片缺陷检测装置，为了解决人工人眼检测芯片效率低的问题，通过上料轨道装置将TRAY盘输送至取料吸笔变距装置A和取料吸笔变距装置B的下方，利用取料吸笔变距装置A和取料吸笔变距装置B往复将TRAY盘...
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