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本申请涉及一种芯片测试装置和方法。芯片测试装置包括测试母板和多个测试子板；测试母板包括控制组件和电源组件；测试子板包括供电端和连接组件；其中，不同的测试子板中的连接组件用于连接不同的待测试芯片；其中，电源组件分别与各测试子板中的供电端连接，...该专利属于中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））授权不得商用。