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本发明提供一种半导体存储器装置及其测试方法。半导体存储器装置包括存储器芯片以及存储器控制器。存储器控制器经配置以检测存储器芯片的主阵列中与尾端位对应的目标存储单元的初始测试电压。在将存储器芯片闲置第一时间后，存储器控制器检测目标存储单元的第...
该专利属于华邦电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华邦电子股份有限公司授权不得商用。

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